測(cè)試針，用于測(cè)試PCBA的一種探針。表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧

      探針的材質(zhì)：W，CU、A+1。

W：彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。

A+：A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。

     探針類型：懸臂探針和垂直探針。

懸臂探針：劈刀型和環(huán)氧樹脂型

垂直探針：垂直型 

    根據(jù)探針電子測(cè)試。探針可分為如下三種類型：

光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品

在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品

微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)